白度仪
ELREPHO 450X
在造纸工业中，为白度、亮度及色度控制提供了更高的标准。
新的爱尔夫450X系列分光白度计——谁都承担得起的白度测定仪！
Elrepho450X是以Elrepho3000为基础开发的，适用于试验实及常规生产线的测量。
Elrepho450X采用真双光束SP-2000分光技术，利用一组256阵列的二极管阵列测量参比样和被测样。波长识别通过一个精确的全息衍射光栅实现。
Elrepho450X采用了通常只存在于昂贵的仪器中的测量系统，是真正具有高效的颜色和白度测量功能而价格却便宜的多的仪器
主要特性
- *的SP-2000技术
测量重复性。的仪器交换性使得厂商与用户在白度、亮度及色度方面达成共识 - 改进的软件包
扩展功能的QC软件，色彩工具，用于评估颜色测量数据。所有造纸的模块都集成在一起并使操作更为简便。 - 数据兼容
新型爱尔夫450X与Elrepho3000系列及老型号的爱尔夫2000可进行可靠统一的数值传递 - 长寿命的脉冲式氙灯
0o几何扩散角及脉冲氙灯光源符合测量标准，并提供*的可靠性与可重复性，马达控制自动调整光源的紫外光含量。 - 自动缩放镜头
在6.5mm至34mm的观察范围内方便重复地对操作员操作的大小样品进行测量。下拉式测试平台可方便的将测样定位。内置观察镜可帮助操作员将测样定位。
产品信息
测量
- 几何条件： 漫射/零度 (d / 0)
- 光 源： 脉冲式氙灯，能以佳的模拟接近D65
- 球形直径： 152mm, (6in.)
- 测量原则： 真双光束分光
- 镜头交换： 自动缩放
- 镜反射因素： 不包括
- 分 光 仪： *的SP-2000分析仪设有两组高精度256阵列光电二极管接收器的双光束反射测量装置，凹面全息光栅
- 测量孔径： XLAV – 34mm受光/30mm测量；SAV - 9 mm受光/5mm测量；USAV – 6.5mm受光/2.5mm测量
- 紫外控制： 对荧光样本自动进行紫外测量和控制校准，紫外滤光片：395mm，420mm，460mm。
技术参数
- 光谱范围： 360nm～700nm
- 波长分辨率： 2nm
- 有效带宽： 10nm
- 记录间隔： 10nm
- 测光范围： 0～200%
- 20条读数重复性： 白板0.02 dE CIELAB（大）
- 内部协议 大 dE<=0.4CIELAB
- （再现性） 平均 dE<=0.2CIELAB
物理 / 电气
- 尺寸（立式）：59.7 X 31.2 X 38.1 cm
- 重量（立式）：17kg
- 电源：100 – 240VAC，47 – 63Hz，100VA
- 环境：5 – 40℃，20 – 85%RH
配套软件（ColorTools QC）特性
软件特性 450X
- 纸张测试基准任务
- 仪器校正
- 指出样品重复测量的次数
- 反射因子Rx, Ry, Rz (C/2o),DIN 53140
- ISO亮度R457 (TAPPI 525, SCAN-P3:93)
- 亮度差值 ΔR457 (Delta R457)
- 扩散不透明度 DIN 53146, TAPPI 519 (C/2o)
- 不透明度 TAPPI 425 (15o /d) 光源A(89% 反射衬底和纸衬底）
- 光散射系数和吸收系数 (ISO TC6/SC2/WG1 1979)
- 透明度 C/2o DIN 53147
- 白度－色偏差 Grieser/Ganz
- Hunter L, a, b值
- Grieser/Ganz参数的输入
- 反射率
- 新闻纸的Helmhltz坐标
色度测量功能
- 光源 D65, A, CWF, C, D50, D75, TL84, U3000
- 2o 及10o 视场
- 三刺激值和色度坐标X, Y, Z, x, y
- CIE L＊,a＊,b＊,C＊,h＊,ΔL＊,Δa＊,Δb＊,ΔC＊,Δh＊,ΔE＊
- 条件等色指数DIN 6172
- CIE 白度 (D65/10o)
- Grieser/Ganz白度 (D65/10o)
- WI (E313) 白度 (C/2o)
- Stensby白度 (D65/10o)
- Berger 白度 (D65/10o)
- 黄度YI (E313) (C/2o)
- 黄度YI (1925) (C/2o)
- 黄度DIN6167 (D65/10o)
用户功能
- 随机大可存储500条测量数据，总量无限制
- 随机带有仪器性能诊断程序
- 接受外接键盘的字符输入
- 数字输出至打印机
- 配外部字符键盘：电脑键盘
- 配外部打印机：一般打印机
- 内置LCD显示及功能键：电脑屏幕
- 光谱曲线的图表显示
- 光谱差异曲线的图表显示
