光栅尺主要应用:
1、各类测量机构、仪器的位移测量：弹簧试验机、三坐标机、投影仪
2、各类机床的数显系统：车床、铣床、磨床、镗床、电火花、精密仪器等
3、各类数控机床的配套使用：数控铣、加工中心、数控磨等
4、配接PLC,用于各类自动化机构的位移测量.
技术参数：
1、电压范围：AC 80V∽260V 50HZ∽60 HZ
2、功耗：25VA
3、工作温度：0°C∽45°C
5、相对湿度：<90%（20±5°C）
6、重量：约3.2kg
7、坐标数：二坐标、三坐标
8、显示：带符号7位显示（两轴或三轴）数据，信息窗采用8位米字显示符号输出
9、倍频数：4X
10、显示箱允许输入信号：TTL方波
11、允许输入信号频率：>100KHz
12、长度分辨率：10μm 、5μm、2μm、1μm、0.5μm
13、操作键盘：密封薄膜式轻触按键
14、光栅尺：栅距为0.02mm，供电电源为±5V，输出两路相差90°的TTL方波信号（带零位信号
），电流50mA（精度有±3μm、±5μm、±10μm）
四、功能基本功能：
1、清零；2、预置数；3、公/英制转换；4、/相对坐标转换/200组用户坐标显示；5、停电
记忆；6、“1/2”值功能键显示；7、线性误差修正；8、睡眠关机（DRO—3E数显箱无此功能）
9、200点辅助零位功能；10、自动寻找零位功能
1、电压范围：AC 80V∽260V 50HZ∽60 HZ
2、功耗：25VA
3、工作温度：0°C∽45°C
5、相对湿度：<90%（20±5°C）
6、重量：约3.2kg
7、坐标数：二坐标、三坐标
8、显示：带符号7位显示（两轴或三轴）数据，信息窗采用8位米字显示符号输出
9、倍频数：4X
10、显示箱允许输入信号：TTL方波
11、允许输入信号频率：>100KHz
12、长度分辨率：10μm 、5μm、2μm、1μm、0.5μm
13、操作键盘：密封薄膜式轻触按键
14、光栅尺：栅距为0.02mm，供电电源为±5V，输出两路相差90°的TTL方波信号（带零位信号
），电流50mA（精度有±3μm、±5μm、±10μm）
四、功能基本功能：
1、清零；2、预置数；3、公/英制转换；4、/相对坐标转换/200组用户坐标显示；5、停电
记忆；6、“1/2”值功能键显示；7、线性误差修正；8、睡眠关机（DRO—3E数显箱无此功能）
9、200点辅助零位功能；10、自动寻找零位功能
光栅尺的用途：
目前在精密机加工和精密位移测量时常采用光栅尺做为测量传感器，其后面直接接入二次仪表，或数控系统进行位移测量。测量的精度主要有传感器精度决定。随着电子技术和单片机技术的发展，光栅传感器在位移测量系统将得到更广泛应用，并逐步向智能化方向转化。该测量系统采用光栅移动产生的莫尔条纹与电子电路相结合来完成对位移量的自动测量，它具有判别光栅移动方向、预置初值、实现自动定位控制及过限报警、自检和掉电保护以及误差修正等功能。
目前在精密机加工和精密位移测量时常采用光栅尺做为测量传感器，其后面直接接入二次仪表，或数控系统进行位移测量。测量的精度主要有传感器精度决定。随着电子技术和单片机技术的发展，光栅传感器在位移测量系统将得到更广泛应用，并逐步向智能化方向转化。该测量系统采用光栅移动产生的莫尔条纹与电子电路相结合来完成对位移量的自动测量，它具有判别光栅移动方向、预置初值、实现自动定位控制及过限报警、自检和掉电保护以及误差修正等功能。
应用范围：
1、各类测量机构、仪器的位移测量：弹簧试验机、三坐标机、投影仪、显微镜。
2、各类机床的数显系统：车床、铣床、磨床、镗床、钻床、线切割、火花机等。
3、各类数控机床的配套使用：数控铣、加工中心、数控磨等。
4、可接PC、PLC用于各类自动化机构的位移测量。
1、各类测量机构、仪器的位移测量：弹簧试验机、三坐标机、投影仪、显微镜。
2、各类机床的数显系统：车床、铣床、磨床、镗床、钻床、线切割、火花机等。
3、各类数控机床的配套使用：数控铣、加工中心、数控磨等。
4、可接PC、PLC用于各类自动化机构的位移测量。
DELOS系列光栅尺参数：
测量范围： 30mm～3000mm
外型尺寸：M（小尺：20—50mm）、W（中尺:50—1000mm）、B（大尺:1100—3000mm）
分辨率分为：1um（0.001mm）、5um（0.005mm）
单向重复精度：2um（0.002mm）
反向重复精度 3um（0.003mm）
栅距：0.02mm 栅线：50线对/mm
反应速度： 120m/min（0.005mm） 20m/min（0.001mm）
工作温度：0-45℃
存储温度：-20℃-70℃
输出 讯号： TTL 、EIA-422-A
供应 电压： DC 5V ±5% 、24V
电缆线长：2.6m（可加长）
读数头滑动系统：垂直式五轴承，滑行畅顺
光学测量系统：透射式红外线光测量系统，红外线波长880nm
测量范围： 30mm～3000mm
外型尺寸：M（小尺：20—50mm）、W（中尺:50—1000mm）、B（大尺:1100—3000mm）
分辨率分为：1um（0.001mm）、5um（0.005mm）
单向重复精度：2um（0.002mm）
反向重复精度 3um（0.003mm）
栅距：0.02mm 栅线：50线对/mm
反应速度： 120m/min（0.005mm） 20m/min（0.001mm）
工作温度：0-45℃
存储温度：-20℃-70℃
输出 讯号： TTL 、EIA-422-A
供应 电压： DC 5V ±5% 、24V
电缆线长：2.6m（可加长）
读数头滑动系统：垂直式五轴承，滑行畅顺
光学测量系统：透射式红外线光测量系统，红外线波长880nm
