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产地：美国
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Emai：wyljhx2012
仪器简介：
这是一台可以随身携带到工作地点的小型分析仪。如果您需要快速、实时和高精度的分析，S-是您的*选择。同时，它在国家安全（Home Land Security）和反仿冒（anti-counterfeiting）应用上能为您提供*解决方案。这个强大的50kV, 50 Watt的便携式的X射线荧光光谱仪能够提供与实验室类分析仪类似的敏感和准确的分析。
主要特点：
1）无损元素分析，测量范围从C （6）~Fm（100）；
2）创新采用硅漂移探测器，在高计数率下仍能保持高能量分辨率的特点。目前，S- SDD 在地质勘测及分析应用领域保持地位；
3）耐用的设计，非常适合于野外应用的需要；
4）可达到123 eV ± 5eV的分辨率；
5）坚稳紧凑的设计；
6）增加了zui近改进的基本参数软件
7）拥有nEXt™软件包，操作简单，方便数据的分析和转换；
8）避免使用液氮冷却，节省费用和时间；
9）硅漂移探测器（SDD）具有电子噪音低和高计数率的特点，与Si-PIN 探测器相比，SDD 探测器具有更高的能量分辨率并能更快的得到分析结果，适用于重元素及轻元素。
主要用途：
金属冶炼、贵金属检测、环境保护、药物检测、石油化工。
技术参数：
| 测量能力 | |
| 测量范围 | C（6）－Fm（100） |
| 元素含量分析范围 | Sub ppm - |
| X光管 | |
| X-射线电压 | 50kV, 50W |
| 激发模式 | 直接使用过滤器 |
| 稳定性 | 室温条件下精确到0.1% |
| X光探测器 | |
| 探测器 | 硅漂移探测器，避免使用液态氮 |
| 分辨率 | 129 eV ± 5eV（使用Super SDD可达到123 eV ± 5eV） |
| 窗 | Be / 优化的聚合物窗用于轻元素分析 |
| 特性 | |
| 自动成样 | 1个位置 |
| 工作条件 | 空气/氦气 |
| 电源 | 115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz |
| 脉冲加工 | 数字多通道分析 |
| 尺寸（L×W×H，cm） | 46×44×34（不含包装），75×75×65（含包装） |
| 重量 | 25Kg（净重），60Kg（总重） |
| 样品室尺寸 | 121x112x45 mm |
| 电脑 | 集成 pc |
| 软件 | |
| 操作软件 | nEXt，运行在Windows XP下的数据采集及分析软件包外加初级基本参数算法 |
| 控制 | 样品激发，探测，样品操控，数据采集及处理的自动控制 |
| 光谱处理 | 逃逸峰及背底的自动去除，自动重叠峰解析，图解式统计报告 |
| 定量分析算法 | 考虑共存元素效应的多元素回归法（六种模式）。总计数，净计数拟合及数字滤波器法 |
| 报告 | 用户可自定的数据报表及打印形式 |
