检测控制柜及主机
检测控制柜内部构造示意图
性能指标：
1、一台仪表可zui多分析12流道矿浆；
2、可分析元素种类：原子序数20以上的各种元素；
3、分析元素含量范围：~0.001%；
4、相对误差： 0.5%-20%(对应含量为时相对*.5%,对应含量为0.001%时相对误差20%).
产品特点：
1、实时性：国内的X荧光分析仪绝大多数都是“离线”的实验室分析仪.极个别的应用到现场的也是“旁线”式的仪表,须经过取样、烘干、筛分、研磨、制样等一系列繁杂的样品前处理过程,几个小时之后才能得到分析结果,数据结果有很大的滞后性.本产品1~3分钟即可完成对某*道的测量.
2、可靠性：采用常温半导体探测器(SDD),在常温下具有与液氮下硅锂漂移半导体探测器相同的能量分辨率,避开了进口多元素分析仪中的硅锂漂移半导体探测器必须的液氮制冷装置,大大降低了现场的维护强度,保障了操作人员的安全性,仪表现场*运行稳定可靠.
3、代表性强：设计合理的测量装置,测量池内矿浆的流动性好,并混合均匀,测量结果准确反映了矿浆的真实情况。公司可根据用户需求提供各种类型的取样器：重力自流取样器、压力取样器、缩分取样站、配置取样器等。
4、适应性：测量不受浓度、粒度、气泡、速度、分层等现场因素的影响,能够适应各种情况复杂、条件恶劣的工业现场.
5、研制了新颖的核电子技术、核能谱分析技术,能够对多种元素受激发后产生的复杂能谱进行全面分析处理,消除了不同元素之间的相互干扰.
6、工作状态稳定,分析准确度高,可靠性强,操作简单,维护方便,软件界面友好人性化.
7、与国外同类产品相比有着明显的价格优势,在售后服务上更加便利快捷.
