BenchMike283-10/20非接触台式外形尺寸测试仪（激光万分尺）
测量精度更高，测量速度更快
高质量的测量是测量仪表、测量方法及测试人员有机配合的整体。与传统的接触式外形几何尺寸测量仪表比较，BenchMike中采用了激光非接触测量原理，对原始测量数据自动采集、处理，数字显示等技术，降低了由于测量方法及测量人员造成的误差。从而提高了整个测量的精度。在某些工业应用场合中，如产品出厂检验中，单位时间内需完成大量的测量。此时，在兼顾测量精度的同时，对测量速度提出了更高的要求。BenchMike提供了高速DSP核心处理单元，友好界面的显示控制软件及多种接口用于数据及通讯，将使用者从繁重的测量中解放出来。
总之，BenchMike不仅是一测量中心，还是一测量数据中心，也是一测量数据交换中心。其具备的强大功能保证了其可应用于广泛的领域，同时也使测量更加简单。特别需要指出的是对于一些柔软、易碎、辐射、高精度要求等传统接触测量束手无策的被测量任务，BenchMike可提供满意的测量。
特点:
1. 测量精度高，测量速度快。是本仪表可满足不同测量应用领域。
2. 丰富的测量模式满足不同的测量应用。
3. 采用了全新数据处理技术，图形用户交互（GUI）界面、快捷按键的使用使测量更直观、操作更便利。
4. 内含测量应用库及自编辑被测量功能，配合专门设计的夹具及多种输入/出口，使仪表具备良好的测量扩充能力。
5. 单点及双点自校准功能减少了使用条件的变化对测量的影响，使仪表的维护更方便。
典型测量功能:
配合测量夹具，本仪表可对下列被测量进行直接测量，自动完成测量数据的采集、处理、通讯功能。另用户可基于这些测量功能设计更多的测量方案……
性能指标:
BenchMike283系列 |
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| 283-10 | 283-20 | |
测试范围 | 0.075-25.4mm(0.003-1.0in.) | 0.625-50mm(0.025-2.0in.) | |
复现性错误* | 0.25μm(0.000010in.) | 0.5μm(0.000020in.) | |
线性误差** | ±0.9μm(±0.000036in.) | ±1.5μm(±0.000060in.) | |
测试区间范围 | ±0.75×25mm(±0.030×1.0in.) | ±1.5×50mm(±0.060×2.0in.) | |
扫描光尺寸 | 125μm(0.005in.) | 250μm(0.010in.) | |
扫描光速率 | 50m/sec.(2,000in./sec) | 100m/sec.(4,000in./sec) | |
