鼎极天质量保证 膜厚测试仪?X射线衍射装置
具体地说,比如用不同的装置测定食盐(NaCl)时,从萤光X射线装置得到的信息为此物质由钠(Na)和氯(Cl)构成,而从X射线衍射装置得到的信息为此物质由(NaCl)的结晶构成。单纯地看也许会认为能知道结晶状态的X射线衍射装置(XRD为好,但当测定含多种化合物的物质时只用衍射装置(XRD)就很难判定,必须先用萤光X射线装置(XRF)得到元素信息后才能进行定性。
主要特点
★ 自动对焦功能 。配备激光自动对焦功能,能够准确对焦,提高测量效率。
★ 具有焦点距离切换功能,适用于有凹凸的机械部件与电路板的底部进行测量
★ 采用检量线法和FP法,两个准直器可自动切换,采用激光自动对焦,并配备有Z轴防冲撞传感器,可防止在对焦时造成的损坏。
★ 选用Mo靶材X射线管,测量贵金属更灵敏。
★ 支持多种语言的软件系统。简体中文、繁体中文、英语、日语、韩语
★ 搭载样品尺寸的兼容性可适用于各种样品,能够通过一台仪器测量,从电子部件、电路板到机械部件等高度较高的样品,从较厚的样品(机械零部件)之大型线路板(PCB)及电子元器件等
★ 卤素灯照明
★即时生成测量报告的便捷性 。运用搭载的Microsoft Word? Excel? 可以简单轻松得到制作报告
★ 多种修正功能。基材修正、已知样品修正、人工输入修正
★ 搭载了电动X-Y移动平台
鼎极天质量保证 膜厚测试仪?X技术参数
可测元素:Ti~U
X射线管:管电压45KV,管电流1mA
检测器:比例计数管
样品观察:CCD摄像机
对焦方式:激光自动对焦
测定软件:薄膜FP法、检量线法
准直器:2个(0.1mm,0.025*0.3mm)
安全机能:测量室门自锁功能
Z轴防冲撞功能
仪器自诊断功能
SII的产品是利用萤光X射线得到物质中的元素信息(组成和镀层厚度)的萤光X射线法原理。和萤光X射线分析装置一样被使用的X射线衍射装置是利用散乱X射线得到物质的结晶信息(构造)。而透过X射线多用于拍摄医学照片。另外也用于机场的货物检查。象这样根据想得到的物质信息而定X射线的种类。
简单地说萤光X射线装置(XRF)和X射线衍射装置(XRD)有何不同,萤光X射线装置(XRF)能得到某物质中的元素信息(物质构成,组成和镀层厚度),X射线衍射装置(XRD)能得到某物质中的结晶信息。
鼎极天质量保证 膜厚测试仪?X原理
采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头,测量感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术,利用磁阻来调制测量信号。还采用设计的集成电路,引入微机,使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪,分辨率达到0.1um,允许误差达1%,量程达10mm。