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光电探测系统

更新时间：2024/11/27 9:51:37
光电探测系统

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光电探测系统是一种用于电子与通信技术领域的计量仪器，于2016年3月10日启用。光电探测系统技术指标最多可达6个探测臂、温度范围：4.2K到325K、样品直径：30mm、真空度：10e-5torr、磁场：2T、磁场可以垂直及平行于样品，并且在平行及垂直方向附带光学窗口，透光范围为从可见光到红外光波段、能配合吉时利4200系统测试霍尔效应及磁电阻效应等。[1]光电探测系统主要功能非常适合集成到客户设计的磁测试平台中，应用于磁光研究、磁滞研究、在线退火、霍尔效应研究、磁化率测量等领域。[1]详情>>

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