pct老化试验箱

PCT老化试验箱

PCT老化试验箱

PCT老化箱（又名PCT高压加速老化试验机）主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。PCT老化试验箱产品简介1.PCT老化箱采用优化设计,美观大方，做工精细。2.采用大容量水箱,试验时间长,不中断。3.采用日本“SHIMAX”智能温控器，具有精度高，控制稳定特点（依客户需要也可选择采用触摸屏为4.3寸真彩屏，USB曲线数据下载功能，和通讯功能）。PCT老化试验箱产品应用广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检详情>>

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