用于紫外辐照度测量工作的设备该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。主要性能和技术指标*波长范围及峰值波长:（1）UV365探头：λ：320~400nm;λp=365nm（2）UV420探头：λ：320~500nm;λp=420nm*辐照度测量范围：0.1~1.999×10^5μw/cm2*紫外带外区杂光：UV365:小于0.02%；UV420:小于0.02%*余弦特性：符合国家二级光照度计标准*准确度：±5%（相对于国家标准）*响应时间：1秒*使用环境：温度20±20℃；湿度*尺寸和重量：180×80×36mm3;0.2kg详情>>
紫外照度计价格
