【仪表网 研发快讯】2024年1月23日，中国散裂中子源微小角中子散射谱仪(简称CSNS VSANS)文章《The multi-slit very small angle neutron scattering instrument in China Spallation Neutron Source》被国际晶体学和仪器类知名期刊Journal of Applied Crystallography接收并发表，标志着中国散裂中子源微小角中子散射谱仪的各项性能得到国内外专家的认可，做好了对国内外用户正式开放的准备。
CSNS VSANS是世界首台基于散裂中子源的微小角中子散射谱仪，建设团队精诚合作，突破了多狭缝高精度准直技术，滚筒高精度切换和世界一流GEM探测器的研制等关键技术难点，得到评审专家的高度评价：“正如测试实验证明的那样，多狭缝微小角通过精妙的设计，获得了良好的仪器性能”。
微小角中子散射谱仪覆盖从3埃米-1微米的多尺度结构范围，兼具常规小角、微小角、极化小角和掠入射小角散射功能，具有散射矢量范围宽、实验模式多样、准直长度切换灵活、本底低等优势。该谱仪可广泛应用于各领域的前沿科学研究，包括但不限于生物医药、高分子材料、含能材料、合金材料、磁性及纳米材料等。谱仪计划2024年3月正式开放运行，将服务于国家高科技发展战略需求，在粤港澳大湾区的科技发展与产业升级等方面发挥重要作用。
本论文的第一作者和并列第一作者是高能所的左太森副研究员和韩泽华博士，通讯联系人和并列通讯联系人是程贺研究员和马长利助理研究员。
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