安捷伦推出新X系列测量应用软件

　　仪表网讯   安捷伦科技公司日前推出新的X系列测量应用软件，巩固了其在LTE-Advanced测量领域中的。该应用软件针对LTE-Advanced FDD和TDD发射机和元器件提供符合新3GPP第11版标准的全面的射频一致性测试。该测量应用软件既适用于台式测试仪表，也适用于模块化测试仪器。
　　
　　LTE-Advanced是LTE标准发展的演进。在整个LTE开发周期内执行准确的测试与测量，这对于LTE-Advanced的成功推广仍然是至关重要的。安捷伦之前推出的业界的LTE-Advanced信号分析仪和信号生成解决方案在研发阶段解决了这一问题。现在安捷伦推出的新嵌入式LTE-Advanced X系列测量应用软件能够在设计验证与生产制造阶段更好的解决这个测试难题。
　　
　　新LTE-Advanced测量应用软件为Agilent X系列和模块化信号分析仪提供一键式测量。该应用软件测量速度快、操作简单，可进行SCPI编程、执行合格/不合格测试，是设计验证和生产制造的理想工具。
　　
　　安捷伦副总裁兼微波与通信事业部总经理Andy Botka说：“LTE-Advanced发射机和元器件的验证与生产制造要求使用业内的解决方案。凭借安捷伦在前沿无线技术标准开发领域中的出众经验，这款支持3GPP第11版标准的新嵌入式测量应用软件将会快速准确的帮助我们的客户进行深入分析，信心十足地面对LTE-Advanced无线测试。”
　　
　　更加简单的射频一致性测试
　　
　　Agilent LTE-Advanced 测量应用软件根据3GPP第11版标准的定义，可在LTE-Advanced发射机的连续和非连续配置下执行业内全面的射频一致性测试。该应用软件支持的测量包括：发射机输出功率测试、发射信号质量测试、基站和用户设备的多余辐射测量。
　　
　　该测量应用软件还针对带内非连续载波聚合提供累积ACLR（CACLR）和累积频谱辐射模板（SEM）测量——这是3GPP第11版提出的新要求。由于在标准中规定sub-block间隙中的频谱可额外部署，带内非连续载波聚合配置引入了多余辐射测量的特殊挑战，新增了CACLR要求和特殊的SEM测量模板。新LTE-Advanced测量应用软件是市场上一款针对非连续载波聚合提供CACLR和特殊SEM模板的解决方案。
　　
　　X系列测量应用软件
　　
　　X系列测量应用软件能够提高安捷伦信号分析仪的能力和功能，加快分析速度。测量应用软件可为蜂窝通信、无线连通性、数字视频和通用应用等方面的特定任务提供关键测量，覆盖了40多种标准或调制类型。该应用软件适用于台式测量仪表和模块化测试仪器，的不同是仪器硬件实现的性能水平。选择适合您应用的性能水平，充分确保从开发到生产制造过程中信号分析仪始终保持一致的计算和算法。