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光谱椭偏仪SE-VM型是一款科研级高精度快速测量光谱椭偏仪，可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析，适用于薄膜材料...
光谱椭偏仪Mapping系列是全自动高精度Mapping绘制化测量光谱椭偏仪，集众多颐光科技技术于一体，采用行业前沿创新技术，配置全自动Mapping测量模块。...
全自动Mapping光谱椭偏仪SE-100A是全自动高精度Mapping绘制化测量光谱椭偏仪，集众多颐光科技技术于一体，采用行业前沿创新技术，配置全自动Mapp...
宽光谱穆勒矩阵椭偏仪ME-L型是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪，可通过反射/透射率、椭偏参数、穆勒矩阵和退偏指数等参数测量，实现各种光学薄膜和纳米结构的...
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