藝橋科技（香港）有限公司
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| 产地 | 进口 | 加工定制 | 是 |
|---|---|---|---|
| 适用行业 | 电子电器 |
美国赛默飞FEI扫描电子显微镜SEM
材料科学的Prisma E SEM
适用于需要全面性能和易用性的多用户实验室的完善的SEM。
美国赛默飞FEI扫描电子显微镜SEM
型号：Prisma E
材料科学的Prisma E SEM
适用于需要全面性能和易用性的多用户实验室的完善的SEM。
新型Prisma E扫描电子显微镜（SEM）将广泛的成像和分析模式与新型*的自动化技术相结合，可提供同类产品中完整的解决方案。它是需要高分辨率，样品灵活性和易于使用的操作员界面的工业研发，质量控制和故障分析应用的理想选择。Prisma E继承了非常成功的Quanta SEM。
出色的成像
多用户实验室需要显微镜才能在短时间内产生带有相关数据的高质量图像。Prisma E通过基于四极枪组件的强大成像系统满足了这一需求，该系统在各种束能量和真空条件下都能提供出色的结果。在所有这些条件下，地形图和成分图都提供了必要的样本信息。通过同时采集，该信息可随时用于进一步的解释和分析。
轻松导航
查找感兴趣的区域甚至查找样品本身可能是一项繁琐的工作……但在Prisma E上则并非如此。室内导航摄像头（Nav-Cam）提供了样品架的详细照片，使操作起来非常容易一个会话中包含多个样本，然后一个个地导航到它们。在样本中，只需单击即可转到感兴趣的区域。导航摄像机图像随样本一起旋转，因此导航非常直观。
样品灵活性
如今的研究已经超出了传统金属和涂层样品的范围，非导电材料，大或重样品，脏样品甚至湿样品也需要进行微观尺度的研究。Prisma E具有三种成像模式–高真空，低真空和ESEM™–可以容纳任何可用SEM中蕞广泛的样品。此外，Prisma E的腔室可容纳大型样品，并配备110x110 mm 5轴电动偏心镜台，倾斜范围为105°，可从各个角度观察样品。
支持分析
Prisma E的分析室满足了对元素（EDX，WDS）和晶体学（EBSD）样品数据日益增长的需求，该分析室支持多个EDX检测器，以提高通量并消除阴影效应。此外，分析室支持共面EDX / EBSD和平行光束WDS，以确保所有技术的蕞佳定位。由于Prisma E的现场能力，即使在绝缘或高温的样品上也可以获得可靠的分析结果。
用于光子学，地球科学，陶瓷，玻璃和故障分析应用的其他样品信息来自*的可伸缩RGB阴极发光检测器。
元素表征
需要将成像与元素表征（SEM + EDX）进行强大结合的研究人员将受益于带有Thermo Scientific Pathfinder软件的Thermo Scientific UltraDry检测器。作为标准配置，UltraDry软件包具有峰反卷积功能，可进行快速，准确的定量元素图分析，自动漂移补偿以及用于离线分析和处理的无限站点许可证。
通过高级自动化轻松使用
对于需要为大量用户提供少培训时间的实验室，易用性至关重要。Prisma E带有Windows 10上经过验证的*一代xT用户界面，其中包括用户指南-一种直接与显微镜交互的帮助功能。它还包括“撤消/重做”功能，鼓励新手用户安心地进行试验，而专家用户可以轻松地缩短获得结果的时间。Prisma E支持扫描预设，列预设和SmartSCAN，以进一步提高生产力，数据质量和易用性。对于重复性工作或高级实验，Prisma E可以通过功能强大的基于Python的脚本编写工具Autoscript实现自动化。
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