粉体粒度仪-珠海真理光学仪器有限公司

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更新时间：2022-05-18 15:12:20浏览次数：365次

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由固体颗粒堆积而成的集合体叫做粉体。固体颗粒即是组成粉体的基本单元。从而测量粉体粒径分布（或者说粉体粒度）的仪器简称粉体粒度仪。

真理光学技术团队具有超过二十年粒度表征及应用开发的经验，曾研发出一台商用激光粒度分析仪。测量粉体粒度分布的粉体粒度仪是真理光学基于多年的科研成果并融合多项技术开发的新一代粉体粒度仪：

（1）发现爱里斑的反常变化（ACAD）规律及其对粒度测量的影响，解决了ACAD现象对光能数据反演的干扰。

（2）的偏振空间滤波技术

（3）斜置梯形窗口技术。

（4）统一的散射光能反演算法，免除了用户必须选择反演模式，而不同模式有不同结果的困扰。

（5）分散系统双电机驱动及液位连续监控。

测量原理		激光衍射
光学模型		全量程米氏理论及夫朗霍夫理论可选
粒径范围		0.02μm-3600μm，无需更换透镜，不依赖标样校准
检测系统		包含格栅式超大角度，非均匀交叉面积补偿检测器阵列，全测量角度范围无盲区
光源		集成恒温系统的638nm，20mW固体激光器
空间滤波方式		非针孔式偏振滤波技术
光学对中系统		智能全自动
测量时间		典型值小于10秒
测量速度		可达20000次/秒
准确度		Dv50优于±0.6% （NIST可溯源乳胶标样）
重复性		Dv50优于±0.5% （NIST可溯源乳胶标样）
激光安全		1类激光产品

计算机配置		Intel i5处理器，4GB内存，250GB硬盘，鼠标，键盘和宽屏显示器
计算机接口		USB2.0或以上
软件运行平台		Windows7或以上专业版
操作环境温度		5℃-40℃
操作环境湿度		10%-85%相对湿度（无结凝）
电源要求		交流220V，50Hz-60Hz，标准接地

光学系统重量		28kg
光学系统尺寸		636mm x 275mm x 320mm