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重庆汗丁直销olympus奥林巴斯STM7亚微米级电气元件显微镜

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更新时间：2024-10-22 07:49:46浏览次数：117次

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产品简介

简单介绍：重庆汗丁直销olympus奥林巴斯STM7亚微米级电气元件显微镜重庆汗丁直销olympus奥林巴斯STM7亚微米级电气元件显微镜使用与*的光学显微镜相同的UIS2无限远校正光学系统。因此，观察到的图像具有高分辨率和高对比度，消除了像差，有助于确保**测量的高精度。

详细介绍

详情介绍：

重庆汗丁直销olympus奥林巴斯STM7亚微米级电气元件显微镜

重庆汗丁直销olympus奥林巴斯STM7亚微米级电气元件显微镜产品特性：

通过多年的显微镜发展提高观察性能

STM7系列使用与*的光学显微镜相同的UIS2无限远校正光学系统。因此，观察到的图像具有高分辨率和高对比度，消除了像差，有助于确保**测量的高精度。

明场图像

暗场图像

DIC图像

POL图像

通过石材制作的舞台安装板增强了测量可靠性

STM7-LF有限元分析

为了进一步确保测量精度，STM7系列采用高度耐用，抗振动的框架和花岗岩平板。由于这种稳定性，可以在亚微米级别进行测量，同时确保*小的误差。

继续提供用户友好的高精度三轴测量作为高度测量的

反射有源，共焦自动对焦系统光路

随着现代制造技术变得越来越小型化和**化，高精度测量甚至更重要 - 不仅沿着水平XY轴，而且沿着Z轴。奥林巴斯通过反射主动共聚焦方法**实现了用于测量显微镜的自动对焦系统，从而满足了这些需求。

重庆汗丁直销olympus奥林巴斯STM7亚微米级电气元件显微镜产品测量：

自动光强度调节大大提高了观察和测量的效率

常见问题

传统测量显微镜使用的模拟音量调节不能实现光强度的定量评估，这可能导致光强度变化时测量值的变化。
对于传统的测量显微镜，每次切换物镜时都可能需要调整光强度，以实现低效的工作流程。

STM7解决方案

通过光强度值的定量数字显示关闭控制

panel_display_for_light_volume
STM7系列提供光强度的定量数字显示，可在一致的照明条件下进行观察。

光强度管理器无需手动调节

光强度管理器可与编码旋转物镜转换器配置一起使用。编码旋转物镜转换器可自动检测物镜的切换。这允许为每个物镜记录照明方法和光强度，并且在切换物镜时的测量期间自动调节。现在无需手动调节光强度，这在放大倍率之间的每次切换时都需要。

5xIntensity 50

20xIntensity 70

100xIntensity 120

可拆卸的数字读出优选位置可以快速，方便地检查测量结果和设备状态

常见问题

需要检查设备的运行状态，例如照明或各个单元上的测量值，这使得整个操作变得麻烦。

STM7解决方案

数字指示器使当前操作状态可视化验证

指示灯显示设备状态和设置。*小X，Y和Z轴值可以在0.1μm和1μm之间切换，并且显示单元可以在mm，μm，英寸和mil之间切换。

可拆卸数字读数允许个人偏好和放置

无论是连接到框架还是桌子，可拆卸数字读数器的放置取决于个人用户。在站立进行测量时，它可以放置在框架的侧面，与观察位置几乎相同的高度，以获得特别容易的视图。当从坐姿操作时，例如通过数码相机在显示器上观察或测量或使用电动Z轴聚焦模型时，只需将数字读数器和手持控制器放在桌面上即可。

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数字读数器附在框架上

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数字读数放在桌子上

自动对焦有利于快速，高精度的高度测量

常见问题

在视觉测量期间，高度测量的结果可以在不同的操作员之间变化。
手动高度测量要求操作员重复移动平台并用手柄调节焦距，使测量耗时且效率低。
专注于诸如键合线之类的微小物体是困难的。

STM7解决方案

专用自动对焦单元：出色的再现性和聚焦速度

无论操作员的经验水平如何，STM7专用自动对焦装置均可在*短的时间内完成高精度的高度测量。使用反射有源共焦方法可提供与表面粗糙度或倾斜样品表面无关的稳定焦点，而小激光直径可实现自动对焦，即使在诸如键合线等微小物体上也是如此。

一次性模式

瞬间将自动对焦从大致聚焦状态转移到位于视野中心的清晰焦点。

跟踪模式

特色TRACK模式提供自动对焦功能，可跟踪样品的峰和谷，即使移动了舞台，也能保持图像不断聚焦。这一进步大大提高了Z轴测量的效率，使您无需将手从X和Y手柄上移开即可进行观察。

重庆汗丁直销olympus奥林巴斯STM7亚微米级电气元件显微镜产品设计：

提供适合手边样品大小的阶段

常见问题

短测量行程排除了较大样本的测量。
在测量期间补偿比X轴覆盖更短的Y所需的样本旋转是时间效率低的。到目前为止，大型平台在X轴上提供了足够的测量覆盖率，但在Y轴上的覆盖范围较小。
由于测量范围窄，不可能在舞台上排列大量样品进行测量。

STM7解决方案

提供四种类型的平台，每种平台具有的方形测量行程（可选择50 mm x 50 mm，100 mm x 100 mm，200 mm x 200 mm和300 mm x 300 mm）。从小尺寸样品到大尺寸样品，有一个适合被测样品的阶段。
离合器系统可实现粗调和精调之间的快速切换。由于这种切换功能，平台也可以沿X轴和Y轴快速移动，并在XY平面上自由移动。
300 mm方形长度的工作台可以将相同的测量行程应用于X和Y轴，这意味着它可以用于测量大样本，例如300 mm晶圆和印刷电路板，而无需改变其方向。

STM7-CS50
50mm x 50mm

STM7-CS100
100mm x 100mm

STM7-CS200
200 mm x 200 mm

50mm_stage_stmm7-CS300
STM7-CS300

300 mm x 300 mm

Use the Same Microscope for Both Low- and High-Magnification Observations

Common Problems

Most conventional measuring microscopes only accept a measuring objective or metallurgical objective, and so are unable to meet the requirements for a wide variety of observations.

STM7 Solutions

The STM7 accepts both a metallurgical objective and a measuring objective by exchanging a revolving nosepiece with a measuring objective adapter. This means that the STM7 combines both metallurgical optics and measuring optics in one microscope. In this way, the STM7 series satisfi es a range of needs, no matter whether measuring a wide area or tiny region, measuring the size of differences betwe en levels, or assisting the user in deciding on the best observation method to choose.

Measuring Objectives

Because the measuring objectives have an extremely long working distance, they provide confidence when focusing on samples with large peaks and troughs while reducing worries of the objective coming into contact with the sample.
Furthermore, their low-magnifi cation capability enables wide areas to be observed in a single view.

Metallurgical Objectives

brightfield_image_by_metallurgical_objectives

Brightfield image

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Darkfield image

Metallurgical objectives enable high-magnifi cation, highresolution observation capability comparable to that of optical microscopes. What’s more, these objectives can be used not only for brightfield, but also for darkfield and DIC observation.

重庆汗丁直销olympus奥林巴斯STM7亚微米级电气元件显微镜产品技术规格：

		小框架	中间框架	大框架
光学系统			UIS2光学系统（无限远校正）
显微镜框架	观察方法		BF / DF / DIC / KPO * 1
	反射/透射		反射/透射
	照明系统		白色：用于反射照明，绿色：用于传输照明，*大值。功耗：10瓦
	焦点	电动/手动	手动[手动类型]
			电动[电动型]
		行程	175毫米		145毫米* 2
		FOCUS按钮：粗调速度	8毫米/秒[电动型]
		精细定位速度（可变）	800μm/400μm/200μm/50μm（旋钮旋转）4个步骤[电动型]
		*大可测量高度	175毫米* 3,120毫米* 4		145毫米* 3,90毫米* 4
	目标		衡量目标/冶金目标
观察管			直立图像单眼管，直立图像三目镜筒（100：0/0：100）
阶段	行程		50（X）×50（Y）毫米	200（X）×200（Y）毫米	300（X）X300（Y）毫米
			100（X）×100（Y）毫米	200（X）×200（Y）毫米	300（X）X300（Y）毫米
	测量精度		50毫米行程：（3 + L / 50）μm	（3 + 4L / 200）微米	（3 + 6L / 300）微米
			100毫米行程：（3 + 2L / 100）μm	（3 + 4L / 200）微米	（3 + 6L / 300）微米
柜台展示	轴数		三
	单元		毫米/微米/英寸/密耳
	*低分辨率		为0.1μm
外形尺寸	[手动类型]		466（W）x583（d）x651（高）mm	606（W）x762（d）x651（高）mm	804（W）x1024（d）X686（高）mm
	[电动型]		466（W）x583（d）x811（高）mm	606（W）x762（d）x811（高）mm	804（W）x1024（d）x844（高）mm
重量	[手动类型]		84公斤（约）	152公斤（约）	277公斤（约）
	[电动型]		92公斤（约）	159公斤（约）	284公斤（约）
备注			* 1：简易偏光观察 * 2：使用大框架STM7-LF / STM7-LFA时，高度为100mm或更小的样品可放置在距光轴向后180mm或更远的位置。 * 3：用于冶金显微镜的物镜* 4：用物镜测量显微镜