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NexION 5000 ICP-MS新一代创新接口设计的优势

阅读：2124 发布时间：2020-07-23

具有OmniRing的第二代三锥接口的新型设计专为NexION 5000 ICP-MS而研发，兼顾了灵敏度和稳定性。该设计以三锥接口几何结构为基础，基于简单高效的OmniRing技术提供了*的应对空间电荷效应的解决方案。该设计从ICP-MS理想接口的诸多特性着手，通过减少离子流提高了传输效率，与此同时，还以受控的方式实现了离子通过接口后的加速，而不会将高能离子传输到下游离子光学系统中。结果是在没有提高仪器本底水平的情况下，大大提高了分析物的信号强度。通过这种新型接口设计，能够在强健等离子体条件下，直接以亚ppt级的背景等效浓度对复杂基质进行分析。除了提高灵敏度，该接口设计还使NexION 5000 ICP-MS在处理具有挑战性的基体时，彰显出的稳定性。这要归功于三级压降系统，以及将那些如锥和离子透镜等易于样品沉积和离子溅射的表面进行尽量小化处理的设计。

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