2016年新年伊始，日本电子株式会社（JEOL）即同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。为了**整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能，JEM-F200...

1.明亮房间操作，操作环境改善。 2.自动化程度提高，可在荧光屏相机上做自动聚焦等操作。 3.更加强化了高对比度功能，相较前机型提高28.5%。4.更加简洁的操...

超高的分辨率0.6 nm (15 kV) and 0.7 nm (1 kV).高速**分析能力稳定的大束流从磁性样品到非导体样品使用范围广泛

JNM-ECZS系列不仅具有高性能，还进一步实现了谱仪的小型化。上等软件和自动化技术，使常规测试全部实现了自动化。超高灵敏度自动调谐探头包括了SuperCOOL...

全新发布的日立新型场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）全新品牌 "Regulus®系列"，机型包括作为SU8010的后续机型开发的 "Regulus81...