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ATX210覆层测厚仪

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ATX210覆层测厚仪
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更新时间：2024-11-28 20:12:53浏览次数：146次

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北京时代光南检测技术有限公司

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ATX210覆层测厚仪

详细介绍

ATX210覆层测厚仪

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ATX210覆层测厚仪

ATX210覆层测厚仪概述
      ATX210覆层测厚仪是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量；既可用于实验室，也可用于工程现场；广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；是材料保护专业的仪器。
       
       ATX210覆层测厚仪符合以下标准：
  •  GB/T4956-1985 磁性方法
  •  GB/T4957-1985 涡流方法
  •  JB/T8393-1996 磁性和涡流覆层测厚仪
  • JG889-95 《磁阻法测厚仪》
  • JJG818-93 《电涡流式测厚仪》 

ATX210覆层测厚仪

ATX210覆层测厚仪功能特点
  • 采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金等)上非磁性覆层厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)，非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层厚度(如:橡胶、油漆、阳极氧化膜等)
  • 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
  •  具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
  • 设有五个统计量：平均值、值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
  • 可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
  • 具有存贮功能：可存贮100 个测量值
  • 具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据
  • 可设置限界：对限界外的测量值能自动报警；并可用直方图对一批测量值进行分析
  • 具有电源欠压指示功能
  • 操作过程有蜂鸣声提示
  • 具有错误提示功能，通过屏显或蜂鸣声进行错误提示
  • 设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式
ATX210覆层测厚仪技术参数
  • 测头类型：F | N
  • 测量原理：磁感应 | 电涡流
  • 测量范围：0-1500um | 0-1500um 0-40um(铜上镀铬)
  • 低限分辨力：0.1um
  • 探头连接方式：一体化
  • 示值误差：F | N
            1.  一点校准(um)：±[2%H+1]
            2.  两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1]
            3.  一点校准(um)：±[2%H+1.5]
            4.  两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1.5]
  • 测量条件：F | N
           1.  最小曲率半径(mm)：凸1.5 | 凹9
           2.  基体最小面积的直径(mm)：ф7
           3.  最小临界厚度(mm)：0.5
           4.  最小曲率半径(mm)：凸3 | 凹10
           5.  基体最小面积的直径(mm)：ф5
           6.  最小临界厚度(mm)：0.3
  • 温湿度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
  • 统计功能：平均值、值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
  • 工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
  • 测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
  • 上下限设置：有
  • 存储能力：100个测量值
  • 关机方式：手动和自动
  • 电       源：二节AAA型（7号）1.5V电池
  • 外形尺寸：110×50×23mm
  • 重       量：100g 
ATX210覆层测厚仪基本配置
  • ATX210覆层测厚仪主机
  • 铁基体和铝基体
  • 标准片一套|五片
  • 二节AA型（5号）1.5V电池  
  • 使用说明书 
ATX210覆层测厚仪可选附件
  • 时代覆层测厚仪选型表

关键词：测厚仪 涂层测厚仪 标准

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