详细摘要： 该试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件...
产品型号：BN-ZQ所在地：东莞市更新时间：2021-04-07 在线留言
东莞百年测试设备有限公司
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详细摘要： 適用於各半導體，電子連接器, 被動元件及各具沾錫之電子産品零件接腳氧化試驗金屬接腳粘錫性試驗前加速老化試驗,符合安規MTL-STP-208F,202等標準。
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