X荧光光谱仪 镀层测厚仪 返回列表页

XTU-4CX荧光光谱仪 镀层测厚仪是一款设计结构紧凑，模块精密化程度*的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

快速精准移动定位：高精密微型移动滑轨，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm

微焦X射线装置：检测面积可小于0.002mm²的样品，可测试各微小的部件高效率正比接收器：即使测试0.01mm²以下的样品，几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便：下照式设计可以快速定位对焦样品

XTU-4CX荧光光谱仪 镀层测厚仪广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。

多元迭代EFP核心算法

专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代研发出EFP核心算法，结合*的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。单涂镀层应用：如Ni/Fe、Ag/Cu等多涂镀层应用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等合金镀层应用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等合金成分应用：如NiP/Fe，通过EFP算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可精准分析出镍磷含量比例。重复镀层应用：不同层有相同元素，也可准确测量和分析。如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，一层Ni和三层Ni的厚度均可测量。