GaN射频功放IV测试脉冲恒压源 返回列表页

GaN射频功放IV测试脉冲恒压源简介

CP系列脉冲恒压源是武汉普赛斯仪表推出的窄脉宽、高精度、宽量程插卡式脉冲恒压源。设备支持窄脉冲电压输出，并同步完成输出电压及电流测量；支持多设备触发实现器件的脉冲IV扫描等；支持输出脉冲时序（如延迟、脉宽、周期等参数变量等）调节，可输出复杂曲线。主要特点有：脉冲电流大，Z高可至10A；脉冲宽度窄，Z小可低至100ns；支持直流、脉冲两种电压输出模式；支持线性，对数，以及自定义多种扫描工作方式。

产品特点

插卡式设计，1CH/插卡Z高支持10通道；

直流/脉冲两种电压输出模式；

大脉冲电流Z高可至10A；

超窄脉宽低至100ns；

高速率采样Z高支持125MHz；

多种扫描模式；

技术参数

GaN射频功放IV测试脉冲恒压源应用领域

CP系列脉冲恒压源可应用于氮化镓、砷化镓等材料构成的高速器件的I-V测试，如大功率激光器、GaN射频功放、忆阻器等

普赛斯以自主研发为导向，深耕半导体测试领域，在I-V测试上积累了丰富的经验，先后推出了直流源表，脉冲源表、脉冲恒流源、脉冲恒压源、功率器件静态测试系统、大功率激光器老化测试系统等测试设备，广泛应用于高校研究所、实验室，新能源，光伏，风电，轨交，变频器等场景。