ST-21型方块电阻测试仪以大规模集成电路为主要核心；用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源；带回路有效正常指示电路；并配以大型LCD显示读数，使仪器具有体积小...

RTS-2/RTS-2A型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计...

PN-30型导电类型鉴别仪采用整流法（也称三探针法）和温差法（也称冷热探笔法来判断单晶（或多晶）硅的导电类型（N型或P型），用N型和P型显示屏直接显示单晶（或多...

PN-12型导电类型鉴别仪采用整流法（也称三探针法）和温差法（也称冷热探笔法来判断单晶（或多晶）硅的导电类型（N型或P型），用N型和P型显示屏直接显示单晶（或多...

LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目...

CV-2000型电容电压特性测试仪作为组成半导体器件的基本结构的PN结具有电容效应（势垒电容）。加正向偏压时，PN结势垒区变窄，势垒电容变大；加反向偏压时，PN...

CV-5000型电容电压特性测试仪在集成电路特别是MOS电路的生产和开发研制中，MOS电容的C-V测试是极为重要的工艺过程监控测试手段，通过C-V测试达到优化生...

100A/20A四探针金属/半导体电阻率测量仪是100A/20（及100A/2）的升级版，其为用户提供了使用100A/20进行四探针测试及实验的配套软件，可运行...

RTS-8型四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，于测试半导体材料...

RTS-11型金属四探针测试仪于测试低阻金属材料电阻率及方块电阻测量范围：电阻率：10-7～10-2Ω.cm； 方块电阻：10-6～10-1Ω/□；是运用四探针...

以往检测粉尘中游离二氧化硅含量, 均采用《作业场所空气中粉尘测定方法》（GB5748—85） 规定的“焦磷酸重量法“, 该方法存在操作步骤复杂、使用试剂种类繁多...

Nolay3022职业卫生粉尘分散度测定仪粉尘分散度测定显微镜是我公司专门针对工作场所粉尘检测需要而开发的*符合国标GBZ/T 192.3—2007的一套显微图...