苏州安而森试验设备有限公司
温度循环试验系统TC 温度循环试验系统TC用来考核功率半导体器件,在短期内反复承受温度变化(循环流动的空气)的能力及不同膨胀系数材料之间的热匹配性能。 产品......
1.1设备名称:温度循环试验系统TC
1.2设备型号:ATC-G518
1.3 提篮尺寸W×H×D mm:500×300×500
外箱尺寸W×H×D mm:1500×2200×2120
内箱容积 : 75L
1.4预热温度: 60℃~200℃ (60℃~180℃ ≤40min)
预冷温度:-10~-70℃ (25℃~-70℃ ≤60min)
1.5高温冲击范围:﹢60 ℃ ~﹢180 ℃
低温冲击范围:-10 ℃~﹣55 ℃
1.6试验规格:二箱式180 ℃(30 min) ←NC→ -55 ℃(30 min)
1.7试验负载:5 Kg 铝
1.8温度转换时间:≤10S
1.9恢复时间:≤5 分 钟
1.10除霜频率 ≥300 cycle/次
1.11设备标准:设备验收可按国家标准GB/T5170.2-96执行,技术指标以技术规格书为准
1.12试验标准:GB/T 2423.1-2001 试验A:低温试验方法
GB/T 2423.2-2001 试验B:高温试验方法
GB/T2423.22-2002 试验N:温度变化试验方法 试验Na
GJB 150.3-2008 高温试验
GJB 150.4-2008 低温试验
GJB 150.5-2008 温度冲击试验
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