详细摘要： 小型高温反偏试验系统HTRBAS-HTRB-C8小型高温反偏测试系统用于研发部分评估封装工艺的稳定性，加速缺陷失效率，剔除有隐患的器件或剔除有制造缺陷的器件（剔...
产品型号：所在地：苏州市更新时间：2025-04-25 在线留言苏州安而森试验设备有限公司
苏州安而森试验设备有限公司
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详细摘要： 小型高温反偏试验系统HTRBAS-HTRB-C8小型高温反偏测试系统用于研发部分评估封装工艺的稳定性，加速缺陷失效率，剔除有隐患的器件或剔除有制造缺陷的器件（剔...
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详细摘要： AS-HTRB-F16AS-HTRB系列高温反偏测试系统用于评估封装工艺的稳定性，加速缺陷失效率，剔除有隐患的器件或剔除有制造缺陷的器件（剔除早期失效的器件）。...
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详细摘要： AS-HTRB-B16用于评估分立器件工艺的稳定性，加速缺陷失效率，剔除有隐患的器件或剔除有制造缺陷的器件（剔除早期失效的器件）的一种可靠性试验。产品特.......
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详细摘要： AS-H3TRB-C16一种用于评估分立半导体器件在高温，高湿，偏压条件下对湿气的抵抗能力，加速其失效进程，同时可附带评价器件外观的寝蚀。产品特点 ......
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详细摘要： AS-H3TRB-H8（模块专用）适用的第三代半导体的研发和工艺改进1、高温扩散工艺技术的改进，包括可能引起硅片内部隐裂的工艺技术改进2、包封工艺技术、框架处理...
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详细摘要： 高温栅偏试验系统HTGB高温栅偏试验系统满足各种封装形式IGBT模块高温栅偏试验HTGB和高温漏电流测试HTIR。用于评估功率模块工艺的稳定性，加速缺陷失效率，...
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详细摘要： 高温反偏试验系统HTRB适用于IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等器件的高温反偏试验;产品应用覆盖DIP、SOP、SOT、SOD、T...
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详细摘要： 高温高湿反偏试验系统H3TRB高温高湿反偏试验系统（H3TRB)用于功率半导体器件的环境老化试验，比如 Si/SiC/GaN 材料的IGBT/DIODE/MOS...
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详细摘要： 无氧充氮高温箱复式无氧充氮高温箱是高温无氧（低氧）设备，主要适用于半导体制造、IC芯片，电子产品、医疗卫生、柔性线路板印刷、精密模具退火等行业的无氧化（低氧）干...
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详细摘要： 气候拟试验箱TH稳态湿热试验箱用于评估器件在高温，高湿条件下对湿气的抵抗能力，加速其失效进程，同时可附带评价器件外观的寝蚀。主要用于高温扩散工艺技术的改进（重点...
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详细摘要： 三厢式温度冲击试验箱TS高低温循环箱(TS)又名高低温冲击试验箱或冷热冲击试验箱，产品主要用于测试产品在高温、常温、低温瞬间转换的环境下的贮存、运输和使用性能。...
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详细摘要： 稳态湿热试验箱STH安而森可程式恒温恒湿试验箱用于仿真产品在气候环境下，操作及储存的适应性。材料可能发生软化、效能降低、特性改变、潜在破坏、氧化等现象。例：填充...
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详细摘要： 高加速寿命试验箱HAST通过提高环境应力（温度）与工作应力（电压）加快实验过程，缩短产品寿命时间，评估器件在偏压下高温，高湿，高气压条件下对湿度的抵抗能力（相比...
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详细摘要： 防尘试验箱ET砂尘试验箱又名沙尘试验箱，能够模拟自然界风沙气候对产品的破坏性，适用于检测产品的外壳密封性能，主要用于外壳防护等级标准中规定的IP5X和IP6X两...
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详细摘要： 气候模拟试验箱TH安而森可程式恒温恒湿试验箱用于仿真产品在气候环境下，操作及储存的适应性。材料可能发生软化、效能降低、特性改变、潜在破坏、氧化等现象。例：填充物...
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详细摘要： 稳态湿热试验箱80L-20评估器件在高温，高湿条件长时间贮存情况下对湿气的抵抗能力，加速其失效进程，同时可附带评价器件外观的寝蚀。产品特点 ......
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详细摘要： 充氮高温箱（专用型）充氮高温箱是高温无氧（低氧）设备，主要适用于半导体制造、IC芯片，电子产品、医疗卫生、柔性线路板印刷、精密模具退火等行业的无氧化（低氧）干燥...
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详细摘要： 高压蒸煮试验箱PCT安而森高压加速寿命试验箱是通过提高环境应力（温度）与工作应力（电压）加快实验过程，缩短产品寿命时间，评估器件在偏压下高温，高湿，高气压条件下...
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详细摘要： 小型气候拟试验箱THTHB测试设备评估功率半导体器件在高温高湿，低温低湿，低温高湿条件下对湿气的抵抗能力，加速其失效进程，同时可附带评价功率半导体器件外观的寝蚀...
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