苏州安而森试验设备有限公司
高温高湿反偏试验系统H3TRB 高温高湿反偏试验系统(H3TRB)用于功率半导体器件的环境老化试验,比如 Si/SiC/GaN 材料的IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等器件的高温,高湿,偏压条件下对湿气的抵抗能力,加速其失效进程,同时可附带评价器件外观的寝蚀试验。 ......
产品型号 | AS-H3TRB-C8 | AS-H3TRB-C16 | AS-H3TRB-H8 | |
箱体尺寸 | ||||
试验箱内容积 | 升(L) | 408 | 408 | 408 |
内箱尺寸 (mm) | 宽(W) | 600 | 600 | 600 |
高(H) | 800 | 800 | 800 | |
深(D) | 850 | 850 | 850 | |
外箱尺寸 (mm) | 宽(W) | 2000 | 2000 | 2000 |
高(H) | 19150 | 19150 | 19150 | |
深(D) | 1180 | 1180 | 1180 | |
技术参数 | ||||
适用器件 | 全桥、SCR、三极管、场效应管等 | IGBT/DIODE/MOSFET/BJT/SCR 等器件 | ||
试验箱温度范围 | -20~150℃ | -70~180℃ | ||
试验通道 | 8个 | 16个 | 8个 | |
电源数量 | 根据客户需求提供≤8台 | |||
试验电源 | ≤300V | ≤6000V | ||
老化板 | 可按客户的器件封装定制老化板。 | |||
供水方式 | 手动和自动补水 | |||
水质要求 | 纯水 |
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