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KARL DEUTSCH涂层测厚仪Leptoskop厚度仪LEPTOSKOP 2042多功能仪器具有精确的测量技术,操作简便。还包括通过解锁代码进行快速现场升级的选项。
KARL DEUTSCH涂层测厚仪Leptoskop厚度仪用于测量磁性基材上的非磁性涂层的厚度(根据DIN EN ISO 2178)并通过涡流法测量非磁性导电基材上的非导电涂层的厚度(根据DIN EN ISO 2360)。
应用
特点:
选型:
LEPTOSKOP 2042具有三种配置级别:
技术数据 | |
串行接口 | 用于将数据传输到RS232或USB |
电源 | 通过电池,USB或电源装置 |
测量范围 | 0-20000 µm(取决于探头) |
测量率 | 每秒高达2个读数 |
存储 | 高 9999个读数(多140个文件) |
测量不确定度 (校准后) | 涂层厚度<100 µm:读数的1%+/- 1 µm 涂层厚度> 100 µm:读数的1.0.3%+/- 1 µm 涂层厚度> 1000 µm:读数的3..5% /-10 µm 涂层厚度> 10000 µm:读数的5%+ /- 100 µm |
附件 | |
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