WLP-202平均粒度仪特点 返回列表页

WLP-202平均粒度仪特点

丹东华宇仪器有限公司是一个生产分析仪器的专业化工厂。主要生产多种型号平均粒度测定仪（通称费氏粒度仪），我公司技术人员自1977年研制成功*台平均粒度测定仪至今，公司先后生产出WLP-202，WLP-205，WLP-208，WLP-216等多种型号平均粒度仪，并获得科技成果奖，至今已有43年生产历史，产品分布俄罗斯，美国，比利时，意大利，韩国，日本及东南亚部分国家和地区。产品质量已经通过国家ISO质量管理体系认证，GB/T19001-2008，ISO9001-2008，近几年研制生产的WLP-216粒度仪采用计算机技术已经获得国家多项批准。由于其测定精度高，速度快，操作方便，很受广大国内外用户欢迎。

(即费氏粒度仪)是一种利用空气透过法来测定各种粉末材料平均粒度的仪器，由于不受材料结团对测量的影响，测试的粒度重复性非常的好，精度高，由于仪器结构简单，操作方便，造价低，性能稳定,自1978 年投产以来，广泛应用于硬质合金，磁性材料，化工材料，医药，陶瓷等工业上。四十年来深受国内外用户好评

WLP-202平均粒度仪特点

主要技术参数

·测量范围：第一档：0.2-20 微米；第二档：20-50 微米

·孔隙度范围：0.4-0.8

·环境温度：25±10℃

·重复性：3%

·电源：110V/60HZ, 220V/50HZ, 任选一种

·功率：30W

·重量：18kg

·外形尺寸：735×415×245mm^3

应用范围

由于是空气透过法，对于粉末有结团、结块的不存在分散的问题尤为适用。

广泛应用于 磁性材料粉末，硬质合金粉末、陶瓷建材粉末、难熔金属粉末、荧光粉、国防工业粉末，另外测定速度快、重复性好是该仪器的最大特点。

平均粒度仪是一种利用空气透过法来测量粉末的平均粒径的仪器。该仪器在我国最早研制的企业是丹东市热工仪表厂于1977年研制成功并投入生产的。主要研制人是罗锡亨高级工程师，至到93年成立了丹东市环境分析仪器厂，把以前WLP-202平均粒度测定仪用户使用的问题改进为WLP-205平均粒度测定仪，在99年时增加了YXQ-100压力校正器升级为WLP-208平均粒度测定仪，后期转为丹东华宇仪器有限公司。