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太阳能电池薄膜分析设备

太阳能电池薄膜分析设备
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产品型号SMX-BEN

品       牌

厂商性质经销商

所  在  地上海市

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更新时间：2017-08-04 14:17:42浏览次数：679次

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产品简介
美国solar Metrology 太阳能薄膜电池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度测量仪

【：】

详情介绍

美国solar Metrology 太阳能薄膜电池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度测量仪

产品特色∶
1.   *能提供NIST等级的标准样品，与美国NREL共同合作。
2.   超大样品室，H:56cmXW;54cmXD74cm
3.   可直接储存及建立各种镀层的Protocol参数，可设定多点分析，以确定制程品
质。
4.   针对CIGS各种镀层材质的滤光片，共5种
5.    X-Y-Z三轴自动定位，轴承zui长距离为8”X8”X6”，并有自动聚焦弁?/div>
6.   具有表面相对等距自动调整系统
7.   采用自然光，LED白光，无色差
8.   采用高科技的高灵敏度的电子式冷却侦测器
9.   具有防撞安全装置
10. 具有操作时辐射安全装置
11. 可将实验室建立的数据直接复制至线上检测机台上。
【：】

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