详细摘要: 膜厚仪EDX-8000T Plus型XRF镀层测厚仪/电镀液分析仪微光斑垂直光路,专为镀层厚度分析而设计,可分析不规则样品厚度高计数率硅漂移检测器 (SDD) ...
产品型号:所在地:苏州市更新时间:2024-10-30 在线留言苏州英飞思科学仪器有限公司
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