美国semisonsoft公司的薄膜测厚仪测量厚度可以低至1nm，厚至1mm，埃级分辨率，非接触式无损快速测量。广泛的应用与各种生产或研究中，比如测量薄膜太阳能电池的CIGS层，触摸屏中的ITO层等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：半导体（硅，单晶硅，多晶硅）半导体化合物（AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS）微电子机械（MEMS）氧化物/氮化物光刻胶硬涂层（碳化硅，类金刚石炭）聚合物涂层（聚对二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺）高分子聚合物我们非常乐意与您讨论有光薄膜的任何问题，希望我们多年的薄膜厚度测量经验能解决您所遇到的薄膜厚度测量问题。
