目录:中山市鑫天溯技术有限公司>>膜厚仪>>镀层检测仪器>> THICK800A镀层检测仪器x射线测厚仪 膜厚计
| 测量范围 | 硫(S)到铀（U）。 | 测量精度 | 0.005mm |
|---|---|---|---|
| 产地 | 国产 | 加工定制 | 是 |
| 外形尺寸 | 500(W)×350(D)×140(H) mmmm | 重量 | 90kg |
| 同时可以分析 | 30种以上元素，五层镀层。 | 分析含量一般为 | ppm到99.9%? |
| 镀层厚度一般在 | 50μm以内（每种材料有所不同） | 度适应范围为 | 15℃至30℃。 |
| 电源: | ?交流220V±5V,?建议配置交流净化稳压电源。 |
元素成分分析:
镀液分析，目前常见镀液元素分析有：金、银、锡、铜、镍、铬、锌。
ROHS 和无卤检测，高性能SDD探测器可以检测无卤,实现镀层与 一机多用。
金属成分分析，在检测ROHS同时可检测金属中其他各元素成分含量。
检测精度：
Cr，Cd，Hg，Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金属
检测限达1ppm。
对这些金属测试分析稳定的读取允许差值本仪器已达到下列标准：
A. 检测含量大于5%的元素稳定的测试读取相对差值小于1%
B. 检测含量在0.5～5%的元素稳定的测试读取相对差值小于2%
C. 检测含量在0.1～0.5%的元素稳定的测试读取相对差值小于5%
D. 检测含量低于0.1%的元素测试读取相对差值变化率小于10%
测量精度:
1）精度(单层)：
测厚仪的检测精度表
| Ni层厚度(um) | 保证精度 |
| <1.0um | <5% |
| 1.0-5.0um | <3% |
| 5.0-10um | <3% |
| 10-20um | <3% |
| >20.0um | <3% |
镀层检测：
常见金属镀层有：
| 镀层 基体 | Ni | Ni-P | Ti | Cu | Sn-Pb | Zn | Cr | Au | Zn-Ni | Ag | Pd | Rh | |
| Al | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
| Cu | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
| Zn | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
| Fe | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
| SUS | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
单层厚度范围：
金镀层0－8um,
铬镀层0-15um,
其余一般为0-30um以内，
可 小测量达0.001um。
多层厚度范围:
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um
镀层层数为1-6层
镀层精度相对差值一般<5%。
镀层成分含量：Sn-Pb合金成分分析；Zn-Ni合金成分分析。
镀层分析优势：分析PCB金手指 小尺寸可达0.2mm
单层分析精度，以Ni举例：（相对差值）
安全使用,维护与保养
由于仪器非常精密，未经允许情况请不要打开仪器外壳，不要对X射线源和探测器进行改变，由用户自身原因造成仪器损坏本公司将不负责任。
仪器安装一定要平稳，仪器后面离墙距离不得小于30厘米，必须使用标准的220V交流电，电压不稳情况要配备稳压电源，插座必须接地良好，由用户电源不合乎要求造成损失由用户负责。
请不要用湿的手触摸电源部分，带水的手也不要碰仪器外壳以免发生触电。
进行测量时，因为高电压流至X射线源，仪器运行时，不要尝试打开或触摸盖子。由于高电压源必须通过自动运行或者遵循用户指南中止。
仪器环境要求：仪器使用环境需清洁，温度适宜15℃~30℃，湿度≤80%,电源：AC: 220V ±5V。
以上细节均有可能造成无法预测后果，买方应予以基本遵守。
| Ni层厚度(um) | 保证精度 |
| <1.0um | <5% |
| 1.0-5.0um | <3% |
| 5.0-10um | <3% |
| 10-20um | <3% |
| >20.0um | <3% |
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