X-Strata980X荧光镀层测厚仪及元素分析仪结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。探测器分辨率*,能更容...
X-Strata980可测试元素的含量或镀层的厚度,可分析的元素范围从原子序数16位(S)至92位(U);进行元素成分分析时,仪器可同步分析25种不同元素的含量...
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