上海西努光学科技有限公司
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研究纳米技术的理想选择ParkNX10为您带来*高纳米级分辨率的数据，值得您信赖、使用和拥有
研究纳米技术的理想选择 Park NX10为您带来*高纳米级分辨率的数据，值得您信赖、使用和拥有。无论是从样品设定还是到全扫描成像、测量与分析，Park NX10都可以在保证您专注于创新研究工作的同时提供高精度的数据。 |  |
Park SmartScan 智能模式 在SmartScan Auto的智能模式下，系统自动执行所有必要的成像操作，同时智能选择*佳的图像质量和扫描速度。这是通过Park的砖利技术才得以实现的。它不仅可以为您节省时间和金钱，还可以给你您带来*好的研究结果。 |
Park 消除串扰技术 Park NX10为您带来*高纳米级分辨率的数据，值得您信赖、使用和拥有。它是一个真正非接触式原子力显微镜，在延长探针使用寿命的同时，还能良好地保护您的样品不受损坏。可弯曲的独立XY扫描仪和Z扫描仪可带来****的**度和分辨率。 | |
Park*的原子力显微镜模式 Park原子力显微镜具有综合性的扫描模式，因此您可以准确有效地收集各种数据类型。从使用世界上的真非接触模式用来保持探针的尖锐度和样品的完整性，到*的磁力显微镜， Park在原子力显微镜领域为您提供*具创新、精确的模式。 |
Park NX10 扫描离子电导显微镜模块 |
Tall Sample 1.5 µm step height
扫描模式：非接触模式，Z轴位置传感器的形貌 | Flat Sample Atomic steps of sapphire wafer
台阶高度0.3 nm，扫描模式：非接触模式，Z轴位置传感器的形貌 |
Hard Sample Tungsten film
扫描模式：非接触模式，Z轴位置传感器的形貌 | Soft Sample Collagen fibril
扫描模式：非接触模式，Z轴位置传感器的形貌 |
Accurate AFM Measurement with Low Noise Z Detector
Park NX10原子力显微镜的低噪声Z探测器
· 业界的超低噪声 · 默认的形貌信号 | Z轴探测器是全新NX系列原子力显微镜的核心技术之一。 它是Park开创的新型应变传感器。凭借着0.2埃的超低噪声一跃成为行业内噪声*低的Z轴探测器。 超低噪声让Z轴探测器可作为默认的形貌信号，全新的NX系列原子力显微镜与前几代的原子力显微镜的差异可轻易被观察到。 如果Z轴探测器的噪声过高，用户是无法观察到蓝宝石晶片的原子台阶的。 Park NX系列原子力显微镜的Z轴探测器所发出的高度信号，其噪声水平与Z轴电压形貌相同。 |
Park NX Series
 Park NX Z轴探测器的噪声水平 |
NX10所探测的蓝宝石晶片形貌 |
Park XE Series
Park XE Z轴探测器的噪声水平 |
XE-100所探测的蓝宝石晶片形貌a |
Accurate AFM Scan by True Non-Contact™ Mode
True Non-Contact™ Mode
| Tapping Imaging
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· 针尖磨损更低=高分率扫描更长久 · 无损式探针-样品接触=样品受损*小化 · 可满足各种条件下对各种样品进行非接触式扫描 |
· 针尖磨损更快=模糊，低分辨率扫描 · 破坏性的探针-样品接触=样品易受损 · 参数高依赖性 |
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简单的探针和样品更换
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闪电般快速的自动近针
| 自动的探针样品进针功能能让用户无需进行干预操作。 通过监测悬臂接近表面的反应，Park NX10能够在悬臂装载后十秒内开始并自动快速完成探针样品进针操作。 高速Z轴扫描器的快速信息反馈和NX电子控制器的低噪声信号处理使得无需用户干预就能快速接触样品表面。 |
快速精准的SLD光校准 凭借我们*的预校准悬臂架，悬臂在装载时SLD光便已聚焦完毕。此外，作为行内一家可以提供自上而下的同轴视角可以让您轻松找到光点。由于SLD光垂直照在悬臂上，您可通过旋转两个定位按钮直观地在X轴Y轴移动光点。这样您可以在激光准直页面中轻易找到SLD光并将其定位在PSPD上。此时您只需要稍微调整到*大化信号，便可开始获取数据。
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Park NX10规格
| 扫描器 | Z扫描器 AFM 扫描头 柔性引导高推动力扫描器 扫描范围：15μm(可选 30μm) | XY 扫描器 闭环控制的柔性引导XY扫描器 扫描范围：50 μm×50 μm （可选10μmx 10μm 或 100μmx 100μm） |
| SICM 扫描头 多层压电叠层驱动器驱动的柔性引导结构 扫描范围：15μm(可选 30μm) | ||
| 驱动台 | 样品尺寸：*大开放空间为100 mm x 100 mm，厚度*大值为20 mm | |
| 影像 | 样品表面和悬臂的直观同轴影像 视野：480 μm×360 μm（带10倍物镜） CCD： 120万像素（默认）， 500万像素（可选；视野： 840 μm x 630 μm ) | 物镜 10倍超长工作距离镜头 20倍高分辨率、长工作距离镜头 |
| 控制器 | 信号处理 ADC：18通道 X，Y和Z扫描器位置传感器的24位ADC DAC：17通道 用于X，Y和Z扫描器定位的20位DAC
| 综合功能 4通道灵活的数字锁相放大器 弹簧常数校准（热控制法） 数字Q控制 |
| 选项/模式 | 形貌成像 · 非接触模式 · 接触模式 · 轻敲模式 磁学特性 · 磁力显微镜（MFM）介电/压电特性 · 压电响应力显微镜（PFM）· 高压PFM · 压电响应谱 · 导电原子力显微镜（C-AFM） · 电流-电压分光谱 · 开尔文探针力显微镜（KPFM） · 高压KPFM · 扫描电容显微镜（SCM） · 扫描扩展电阻显微镜（SSRM） · 扫描隧道显微镜（ STM） · 光电流测绘（ PCM） · 电流-距离（I/d）谱（使用SICM） · 静电力显微镜（EFM） 机械性能 · PinPoint纳米力学· 力调制显微镜（FMM） · 纳米压痕 · 纳米刻蚀 · 高压纳米刻蚀 · 纳米操纵 · 侧向力显微镜（LFM） · 力距离（F / d）光谱 · 力体积成像 | |
| 软件 | Park SmartScan™ AFM系统控制和数据采集的专用软件自动模式的快速设置和简易成像手动模式的上等使用和更精密的扫描控制 | XEI AFM数据分析软件独立设计-可独立安装和分析数据能够生成采集数据的3D绘制 |
| 配件 | · 带温度控制的常用液池 · 温控台 · 电化学池 · 手套箱 | |
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