详细摘要： FT1230深能级瞬态谱仪是分析测试半导体材料和器件的掺杂浓度、缺陷能级位、界面态(俘获界面)等半导体性质的重要测试仪器。
产品型号：所在地：上海更新时间：2022-10-13 在线留言弘度科学仪器（上海）有限公司
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详细摘要： FT1230深能级瞬态谱仪是分析测试半导体材料和器件的掺杂浓度、缺陷能级位、界面态(俘获界面)等半导体性质的重要测试仪器。
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详细摘要： MMR可控连续变温霍尔效应测试系统测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数.Ø温控范围可选Ø磁场强度可选
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详细摘要： DENS-ITOMETER 是 ITS 近期创新研制的密度测量仪，其工作原理是基于物质的导电性，因其能够替代传统的核能密度仪，而赢得“伽玛密度仪克星"的昵称。
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详细摘要： Phystech RH2035 77K&300K霍尔效应测试仪器
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详细摘要： PhysTech在1990年推出了台数字DLTS，随着电脑技术的发展，使得在短时间内进行复杂计算成为可能。在纯指数发射过程模型的基础上，用各种数学模型分析测量到...
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详细摘要： m3c 是一款高精度电容层析成像仪由 ITS 基于过程层析成像技术设计和开发，面向每个主要大洲的客户供货，多年以来通过汲取客户反馈实现了性能和功能改进。
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详细摘要： 运行 测试主体: ERT-电阻层析成像仪器 点击数及分布: 32个电极: 每个面 16电极 x 1个测试断面, 16 x 2 planes, 8 x2 或8x4...
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