深圳谱线跳动科技有限公司
XAD系列荧光光谱仪是一款全元素上照式光谱仪,可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析,*的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。 性能优势: 1. 微小样品检测:最小测量面积0.0085mm² 2. 变焦装置算法:可改变测量距离
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