详细摘要: 这款高度集成的桌面仪器利用亮场和暗场显微成像技术,通过自动化的图像捕捉以及人工智能分析工具,为晶圆表面缺陷的检测提供了快速且高效的解决方案
产品型号:半导体晶圆缺陷检测仪所在地:上海更新时间:2025-08-17 在线留言上海波铭科学仪器有限公司
详细摘要: 这款高度集成的桌面仪器利用亮场和暗场显微成像技术,通过自动化的图像捕捉以及人工智能分析工具,为晶圆表面缺陷的检测提供了快速且高效的解决方案
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