上海千欣仪器有限公司
传统的荧光光谱和寿命系统测量的数据不具有空间分辨率，通过微区光谱测量可得到样品精细结构的数据，本系统可在显微镜视野中设置一个AOl（感兴趣区域），并测量此区域中样品的荧光光谱、荧光寿命及荧光图像，实现这三种数据的共定位测量，避免了类似实验中，无法保证三种数据的空间一致性的问题。它具有如下特点∶AOI位置和大小精确可调;无需调校光源位置即可保证空间一致性;具有高空间分辨率
系统主要构成∶
1.光谱系统∶ PTI QuantMasterTM TimeMasterTM 系列
2.显微平台∶ Nikon系列荧光显微镜（其它品牌亦可）
3.显微光度系统∶ PTI RatioMasterTM 系列荧光光度系统
4.图像采集系统∶ Andor 系列科研级CCD（制冷型、EM放大型）
主要应用：
空间分辨的各种荧光光谱应用（荧光强度、激发光谱、发射光谱、3D光谱，同步扫描，基于时间的强度等）
空间分辨的各种荧光寿命应用（荧光寿命测量、时间分辨荧光光谱测量）
显微荧光成像的各种应用（如荧光成像、时间序列成像、三色叠加、形态测量等）
共定位测量
三色荧光叠加
来自单一的15-微米直径荧光标记乳液滴（左图）和相同的5×5微米乳液滴区域（右图）的荧光衰减
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