详细摘要： 半导体参数测试仪能测试很多电子元器件的静态直流参数（如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE...
产品型号：STD2000所在地：西安市更新时间：2024-04-02 在线留言
陕西天士立科技有限公司
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详细摘要： 半导体参数测试仪能测试很多电子元器件的静态直流参数（如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE...
产品型号：STD2000所在地：西安市更新时间：2024-04-02 在线留言
详细摘要： 二极管正向浪涌电流测试系统ST-IFSM_X可用于各类二极管（Diode）以及可控硅（SCR）的正向浪涌电流（IFSM）试验，包括三极管（Triode）、MOS...
产品型号：ST-IFSM_X所在地：西安市更新时间：2024-03-21 在线留言
详细摘要： 环境老化试验系统ST-HTXB适用于各种封装类型的Diode、BJT、MOS-FET、SCR、桥堆、IGBT单管/模块、IPM模块等环境老化试验
产品型号：ST-HTXB所在地：西安市更新时间：2024-03-21 在线留言
详细摘要： 半导体热特性试验系统ST-PCX：整机配置3个测试通道，每个通道4颗器件，整机共可同时测试8颗器件。测试电流：范围10~1000mA，精度≦0.5％±...
产品型号：ST-PCX所在地：西安市更新时间：2024-03-21 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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