当前位置:深圳市中图仪器股份有限公司>>技术文章
2024
07-052024
07-042024
07-04三维轮廓仪测粗糙度:SuperView W光学3D表面轮廓仪功能详解
在精密制造领域,表面粗糙度的测量是确保产品质量的关键步骤。光学3D表面轮廓仪为这一需求提供了解决方案。在半导体制造、3C电子、光学加工等高精度行业,表面粗糙度的测量精度直接影响到产品的性能和可靠性。S...2024
07-022024
07-012024
07-012024
06-242024
06-242024
06-242024
06-202024
06-192024
06-142024
06-142024
06-132024
06-122024
06-052024
06-05微观特征轮廓尺寸测量:光学3D轮廓仪、共焦显微镜与台阶仪的应用
随着科技进步,显微测量仪器以满足日益增长的微观尺寸测量需求而不断发展进步。多种高精度测量仪器被用于微观尺寸的测量,其中包括光学3D表面轮廓仪(白光干涉仪)、共聚焦显微镜和台阶仪。有效评估材料表面的微观...2024
06-03WD4000系列晶圆几何量测系统:全面支持半导体制造工艺量测,保障晶圆质量
晶圆面型参数厚度、TTV、BOW、Warp、表面粗糙度、膜厚、等是芯片制造工艺必须考虑的几何形貌参数。其中TTV、BOW、Warp三个参数反映了半导体晶圆的平面度和厚度均匀性,对于芯片制造过程中的多个...2024
05-292024
05-28请输入账号
请输入密码
请输验证码
以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,仪表网对此不承担任何保证责任。
温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。