当前位置：广州四探针科技有限公司>>少子寿命测试仪>>LT-2型单晶少子寿命测试仪

LT-2型单晶少子寿命测试仪

返回列表页

参考价

面议

具体成交价以合同协议为准

产品型号

品牌

厂商性质其他

所在地广州市

在线询价收藏产品

联系方式：查看联系方式

更新时间：2025-03-22 09:46:56浏览次数：85次

联系我时，请告知来自仪表网

产品分类 品牌分类

  少子寿命测试仪

全部产品列表

暂无信息

广州四探针科技有限公司

经营模式：其他

商铺产品：27条

所在地区：广东广州市

询价 给他留言

产品简介

LT-2型单晶少子寿命测试仪LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美国A.S.T.M标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命

详细介绍

LT-2

型单晶少子寿命测试仪

LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目之一。本仪器灵敏度较高，配备有红外光源，可测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单晶，以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。

本仪器根据国际通用方法高频光电导衰退法的原理设计，由稳压电源、高频源、检波放大器，特制的InGaAsp／InP红外光源及样品台共五部份组成。采用印刷电路和高频接插连接。整机结构紧凑、测量数据可靠。

技　术　指　标 ：

测试单晶电阻率范围	>2Ω.cm
可测单晶少子寿命范围	5μS～7000μS
配备光源类型	波长：1.09μm；余辉<1 μS；闪光频率为：20～30次／秒；闪光频率为：20～30次／秒；
高频振荡源	用石英谐振器，振荡频率：30MHz
前置放大器	放大倍数约25，频宽2 Hz-1 MHz
仪器测量重复误差	<±20％
测量方式	采用对标准曲线读数方式
仪器消耗功率	<25W
仪器工作条件	温度： 10-35℃、湿度 < 80％、使用电源：AC 220V，50Hz
可测单晶尺寸	断面竖测：φ25mm—150mm； L 2mm—500mm；纵向卧测：φ25mm—150mm； L 50mm—800mm；
配用示波器	频宽0—20MHz；电压灵敏：10mV／cm；