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ST-20型方块电阻测试仪

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更新时间：2025-03-22 10:09:40浏览次数：68次

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产品简介

ST-20型方块电阻测试仪ST-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻

详细介绍

ST-20

型

方

块

电

阻

测

试

仪

ST-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

◆ 特点：

采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定

低功耗

采用单个电池供电，带电池欠压指示

仪器体积仅为：130mmX65mm X23mm

特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜

探头带抗静电模块

◆ 技术指标：