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SP-601型方形四探针探头

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更新时间：2025-03-22 09:58:47浏览次数：64次

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产品简介

SP-601型方形四探针探头SP-601型方形四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的方型四探针测试探头，专用于测量小样品的四探针探头，可用于一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻

详细介绍

SP-601型方形四探针探头

SP-601型方形四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的方型四探针测试探头，专用于测量小样品的四探针探头，可用于一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

◆ 特性及规格：

1	特制之手握式探笔
2	球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤
3	探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏
4	探头使用寿命长
5	探针间距：1.59mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ