详细摘要： JIMA RT CT-01B分辨率测试卡用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
产品型号：所在地：深圳市更新时间：2024-09-25 在线留言
深圳众裕康科技有限公司
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详细摘要： JIMA RT CT-01B分辨率测试卡用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
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