刘向月
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当前位置：上海衡翼精密仪器有限公司>>专用试验设备>>冲击缺口制样机>> HY-IC卡片动态弯扭试验机
HY（IC）IC卡片动态弯扭试验机技 术 参 数:
本仪器针对性IC卡在国标GB/T 16649.1，国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; *符合以上标准。
外形尺寸：L670 X W380 X H220
儀器重量：70kg
電 壓：AC220V±5%
功 率：35W
測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
測試周期：1~9999次
扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm
正反向各15°，总扭曲角度30°
长边Z大位移量为20mm（+0.00mm,-1 mm）
长边Z小位移量为2mm±0.50mm，
短边Z大位移量为10mm（+0.00mm,-1 mm）
长边Z小位移量为1mm±0.50mm，
夹具安装尺寸*按照国家标准执行。
3、产品用途：
用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试。
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衡翼全体员工真诚为您提供优质产品优质服务。
公司承诺：
1.购机前，我们专门派技术人员为您设计Z佳的流程和方案
2.购机后，将免费指派技术人员为您调试安装
3.整机保修一年，产品终身维护
4.常年供应设备的易损件及耗品确保仪器能长期使用
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