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DAGE Quadra 3 X光检查机可用于高放大倍率下的高质量X射线检测,实现各类生产应用的质量控制。可检测各种制造缺陷 , 包括BGA、QFN和IGBT焊接,PTH填充,界面空洞,元器件开裂和伪造产品。
DAGE Quadra 3 X光检查机
Quadra 3 可用于高放大倍率下的高质量X射线检测,实现各类生产应用的质量控制。可检测各种制造缺陷 , 包括BGA、QFN和IGBT焊接,PTH填充,界面空洞,元器件开裂和伪造产品。
清晰而易于识别的图像可快速显示缺陷。Nordson DAGE的 Aspire FP 探测器由自主设计和制造,专用于电子样品检测。
Quadra 3 规格参数
QuadraNT X 射线管
类型:密封式透射管
特征分辨率:0.95微米
蕞大功率:10瓦
电压:30-160千伏
Aspire FP 探测器
分辨率:140万像素
帧率:10 帧/秒
像素点间距:75 微米
数字图像处理:16比特
检测
倾斜视角图:2 × 70 - 无需旋转样品
减振系统:被动
显示分辨率:94像素/英寸
检测区:510 x 445 毫米 (20 x 17.5 英寸)
几何放大倍率:2000 倍
总放大倍率:7500 倍
样本重量(标准盘):5千克(11磅)
显示器:单,24寸,宽屏扩展图形阵列,分辨率为 1920 x 1200
系统
尺寸: 1570(宽) x 1500(深) x 1900(高)毫米
系统重量:1950千克 (4300磅)
电源:单相200-230伏(交流),50/60赫兹,16安
典型耗电量:1千瓦
运行温度:10-30oC
湿度:<85%(非冷凝)
操作系统:Windows 10 64位
X射线安全性:X射线泄漏量小于 1μSv/hr
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