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东莞瑞凯环境检测仪器有限公司


东莞瑞凯环境检测仪器有限公司

经营模式:生产厂家

商铺产品:177条

所在地区:广东东莞市

联系人:祝先生 (销售代表)

  • PCT加速寿命试验机

    详细摘要: PCT加速寿命试验机主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主...

    产品型号:所在地:东莞市更新时间:2018-05-14 在线留言

  • PCT寿命试验机

    详细摘要: PCT寿命试验机主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金...

    产品型号:所在地:东莞市更新时间:2018-05-14 在线留言

  • LED加速老化试验箱

    详细摘要: LED加速老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主...

    产品型号:所在地:东莞市更新时间:2018-05-14 在线留言

  • 高压加速寿命试验机

    详细摘要: 高压加速寿命试验机主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动...

    产品型号:所在地:东莞市更新时间:2018-05-14 在线留言

  • PCT高压加速老化寿命试验机

    详细摘要: PCT高压加速老化寿命试验机主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障...

    产品型号:所在地:东莞市更新时间:2018-05-14 在线留言

  • PCT高温高压灭菌箱

    详细摘要: PCT高温高压灭菌箱主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主...

    产品型号:所在地:东莞市更新时间:2018-05-14 在线留言

  • PCT老化实验测试箱

    详细摘要: PCT老化实验测试箱主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主...

    产品型号:所在地:东莞市更新时间:2018-05-14 在线留言

  • PCT加速老化试验箱

    详细摘要: PCT加速老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主...

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  • 高压加速老化机

    详细摘要: 高压加速老化机主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属...

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  • 高速老化试验箱

    详细摘要: 高速老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属...

    产品型号:所在地:东莞市更新时间:2018-05-14 在线留言

  • 高压加速老化试验箱

    详细摘要: 高压加速老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动...

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  • PCT加速老化箱

    详细摘要: PCT加速老化箱主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金...

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  • PCT高压老化箱

    详细摘要: PCT高压老化箱主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金...

    产品型号:所在地:东莞市更新时间:2018-05-14 在线留言

  • 快速老化试验机

    详细摘要: 快速老化试验机主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属...

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  • 高压加速老化箱

    详细摘要: 高压加速老化箱主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属...

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  • 磁性材料用PCT高压老化试验机

    详细摘要: 磁性材料用PCT高压老化试验机主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故...

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  • IC/半导体用PCT高压加速试验箱

    详细摘要: IC/半导体用PCT高压加速试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见...

    产品型号:所在地:东莞市更新时间:2018-05-14 在线留言

  • PCT老化箱

    详细摘要: PCT老化箱主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化...

    产品型号:所在地:东莞市更新时间:2018-05-14 在线留言

  • PCT测试仪

    详细摘要: PCT测试仪主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化...

    产品型号:所在地:东莞市更新时间:2018-05-14 在线留言

  • PCT高加速寿命试验机

    详细摘要: PCT高加速寿命试验机主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为...

    产品型号:所在地:东莞市更新时间:2018-05-14 在线留言

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