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全自动影像测量仪FiScherSCOp® X—RAY SystemXDL® —B及XDLM® —C4是采用技术标准ASTM及B56...
FiScherSCOp® X—RAY SystemXDL® —B及XDLM® —C4是采用技术标准ASTM及B568,DIN609...
复合型影像测量仪是采用全新数学计算方法来进行镀层厚度的计算,在加强的软件功能之下,简化了测量比较复杂镀层的程序,甚至可以在不需要标准片之下,一样可以测量。
FiScherSCOp® X—RAY SystemXDL® —B及XDLM® —C4是采用技术标准ASTM及B568,DIN609...
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