BX-G105教学激光椭偏仪是基于消光法（或称“零椭偏"）测量原理，针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。BX-G105仪器适用于纳米薄膜的厚度...

BX-G104纳米光伏专用激光椭偏仪针对光伏太阳能电池推出的专用型多入射角激光椭偏仪。BX-G104用于测量绒面单晶硅或多晶硅太阳电池表面减反膜镀层的厚度以及在...

BX-G102紫外广义光谱椭偏仪BX-G102紫外广义光谱椭偏仪针对科研和工业环境推出的高精度快速摄谱型广义光谱椭偏仪，波长范围覆盖紫外、可见到红外。 广义光谱...

BX-G103激光椭偏仪可在单入射角度或多入射角度下对样品进行准确测量。可用于测量单层或多层纳米薄膜样品的膜层厚度、折射率n和消光系数k；也可用于同时测量块状材...

BX-G101高精度灵敏光谱椭偏仪针对科研和工业环境中薄膜测量推出的高精度快速摄谱型光谱椭偏仪，波长范围覆盖紫外、可见到红外。 光谱椭偏仪基于高灵敏度光谱探测单...