涂层测厚仪XHM-210F 返回列表页

XHM-210F涂层测厚仪是具有广泛使用范围的磁性仪器。其技术参数*符合国家标准。

本仪器是磁性便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业*的仪器。
Fe质探针可检测所有非磁性涂层厚度，例如涂在钢、铁上的漆、粉末涂层、塑料、瓷、铬、铜、锌等。
功能： 

采用了磁感应测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度；
可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正； 
操作过程有蜂鸣声提示；

电池电压指示：低电压提示

自动关机
测量方法：F 磁感应 
技术参数
测量范围：0~1250um （其他量程可定制） 

分辨率：0.1/1

zui小曲面:F: 凸 5mm/ 凹 5mm

zui小测量面积：10mm

zui薄基底：0.3mm

使用环境：温度：0-40℃ 湿度：10-85%RH

准确度：±（1.5～3%h）或±2um

公制/英制：可转换

电源：2节5号电池1

仪器尺寸：02mm×66mm×24mm

重量：99g（含电池）

附件： 

标准片4片： 50um 、100um、 250um 、500um（选配：12um、25um）
基体1块（ 1块基体）

电池2块

清洁布1块

说明书1份

保修卡1张