清洁度分析系统BH-CIA780
显微镜
▪ 奥林巴斯（OLYMPUS）显微镜SZ61
检测内容
▪ 杂质平面尺寸（可扩展杂质高度测量）
▪ 杂质数量
▪ 杂质形状分类：颗粒或纤维
▪ 杂质性质分类：反光（金属），亚光（非金属，金属氧化物）
上海百贺仪器科技有限公司
上海百贺仪器科技有限公司
清洁度分析系统BH-CIA780
▪ 奥林巴斯（OLYMPUS）显微镜SZ61
▪ 杂质平面尺寸（可扩展杂质高度测量）
▪ 杂质数量
▪ 杂质形状分类：颗粒或纤维
▪ 杂质性质分类：反光（金属），亚光（非金属，金属氧化物）
依据杂质的反光和亚光在图像上的灰度差别，为金属与非金属颗粒的判定和判定提供最直接的参考数据和影像，用偏振光照射，记录在两个情况下进行比较，然后用于准确区分金属和非金属颗粒。
▪ 采集过程自动拍照、照片自动保存，进度状态实时可见；照片信息存入数据库，方便查询；
▪ 提供视场图片浏览功能，可以实现视场定位回溯、重新拍照等功能。
▪ 主界面包含多种数据展示方式：map图、颗粒分析结果、颗粒数据列表、统计直方图等。
▪ 支持模板化报告生成模式，包含统计数据、评级、滤片全貌图、颗粒照片等信息。
您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
仪表网 设计制作，未经允许翻录必究 .
请输入账号
请输入密码
请输验证码
